產(chǎn)品信息

特點

● 可根據(jù)用途增加功能(分子量測定、粒子濃度測定、微流變測定、凝膠網(wǎng)眼結(jié)構(gòu)分析、粒徑多角度測定)

● 可以用標(biāo)準(zhǔn)流動池連續(xù)測量粒徑和zeta電位

● 可以測量從稀薄到濃厚溶液(~40% )的廣泛濃度范圍的粒徑zeta電位

● 可以在高鹽濃度下測定平板狀樣品的zeta電位

● 可在0~90℃的廣闊溫度范圍內(nèi)進行測量

● 通過溫度梯度功能，可對蛋白質(zhì)等的變性及相變溫度進行解析

● 通過樣品池內(nèi)的實測電氣浸透流圖分析，提供高精度的ZETA電位測量結(jié)果

● 可安裝熒光濾光器(選配)

用途

非常適用于界面化學(xué)、無機物質(zhì)、半導(dǎo)體、聚合物、生物學(xué)、制藥和醫(yī)學(xué)領(lǐng)域的基礎(chǔ)研究和應(yīng)用研究，不僅涉及微小顆粒，還涉及薄膜和平板表面的科學(xué)研究。

● 新型功能材料領(lǐng)域

- 燃料電池相關(guān)（碳納米管、富勒烯、功能膜、催化劑、納米金屬）

- 納米生物相關(guān)（納米膠囊、樹枝狀聚合物、DDS、納米生物粒子）、納米氣泡等。

● 陶瓷/著色材料工業(yè)領(lǐng)域

- 陶瓷（二氧化硅/氧化鋁/氧化鈦等）

- 無機溶膠的表面改性/分散/聚集控制

- 顏料的分散/聚集控制（炭黑/有機顏料）

- 漿料狀樣品

- 濾光器

- 浮游選定礦物的捕集材料的收集和研究

● 半導(dǎo)體領(lǐng)域

- 異物附著在硅晶片表面的原理解析

- 研磨劑和添加劑與晶片表面的相互作用的研究

- CMP漿料的相互作用

● 聚合物/化工領(lǐng)域

- 乳液（涂料/粘合劑）的分散/聚集控制，乳膠的表面改性（醫(yī)藥/工業(yè)）

- 聚電解質(zhì)（聚苯乙烯磺酸鹽，聚羧酸等）的功能研究

- 功能納米顆粒紙/紙漿造紙過程控制和紙漿添加劑研究

● 制藥/食品工業(yè)領(lǐng)域 　

- 乳液（食品/香料/醫(yī)療/化妝品）分散/聚集控制及蛋白質(zhì)的機能性檢測

- 脂質(zhì)體/囊泡分散/聚集控制及表面活性劑（膠束）機能性檢測

原理

粒徑測量原理：動態(tài)光散射法（光子相關(guān)法）

由于溶液中的粒子根據(jù)粒子的大小在做布朗運動，粒子受到光照射時會得到的散射光。小粒子呈現(xiàn)快速波動，大粒子呈現(xiàn)緩慢波動。通過光子相關(guān)法分析這種波動，就可以求得粒度和粒度分布。

分析流程

zeta電位測量原理：電泳光散射法 （激光多普勒法）

對溶液中的粒子施加電場時，可以觀察到粒子電荷所對應(yīng)的電泳動。籍由此電泳速度可以求得ZETA電位及電泳移動度。
電泳散射法將光照射在泳動中的粒子上得到散射光，根據(jù)散射光的多普勒位移量求得電泳速度。
因此也被稱之為激光多普勒（Laser Doppler）法。