產品信息

特 點

● 可測從0nm開始的低（殘留）相位差
● 光軸檢出同時可高速測量相位差(Re.)
（相當于快速的0.1秒以下來處理）
● 無驅動部，重復再現性高
● 設置的測量項目少，測量簡單
● 測量波長除了550nm以外，還有各種波長
● Rth測量、方位角測量
（需要option的自動旋轉傾斜治具
● 通過與拉伸試驗機組合，可同時評價膜的偏光特性和光弾性
(本系統屬特注。）

測量項目

● 相位差（ρ[°], Re[nm]）
● 主軸方位角（θ[°]）
● 橢圓率（ε），方位角（γ）
● 三次元折射率（NxNyNz）

用　途

● 位相差膜、偏光膜、橢圓膜、視野角改善膜、各種功能性膜
● 樹脂、玻璃等透明、非均質材料（玻璃有變形，歪曲等）

原　理

● 什么是RE-200
● RE-200是光子結晶素子（偏光素子）、CCD相機構成的偏光計測模塊和透過的偏光光學系相組合，可高速且高精度的測量位相差（相位差）、及主軸方位角。CCD相機1次快門獲取偏光強度模式，沒有偏光子旋轉的機構，系統整體上是屬于小型構造，長時間使用也能維持穩定的性能。

執行擬合/傅立葉變換以計算橢圓度 ε 和方位角 γ 。

產品規格

Option
          ● Rth測量、方位角測量※治具本體（旋轉：180° 傾斜：±50°）
          ● 動旋轉傾斜治具

日本Otsuka大塚RE-200高速相位差測量裝置-成都藤田科技提供