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產品中心日本大塚Otsuka日本Otsuka大塚GP series分光配光測量系統
產品型號：
更新時間：2026-02-27
廠商性質：代理商
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日本Otsuka大塚GP series分光配光測量系統-成都藤田科技提供
特殊長度
● 支持長達 2400 毫米的 LED 照明燈具的光分布測量
● 還支持有機EL和大型顯示器的光分布測量
● 可以自動控制2軸測角儀測量每個角度的光譜分布，并通過球帶系數法獲得總光譜通量、總光通量、色度、色溫等。
● 采用新型檢測器，可進行寬動態范圍測量與 IESNA LM-75 兼容
● GP-2000 兼容 Type B 和 Type C
● 支持紫外和近紅外區域的配光測量
● 可提供發光強度標準燈泡（JCSS）
評價項目
發光強度角分布（配光）
光譜輻射通量（光譜）
飽和度坐標 (u', v') [JIS Z8781-5]
飽和度坐標 (x, y) [JIS Z 8724]
顯色指數（Ra、R1 至 R15）[JIS Z 8726]
相關色溫和 Duv [JIS Z 8725]
主波長（Dominant）和刺激純度（Purity）[JIS Z8781-3]
IES（符合 LM63-2002 和 JIS Z8105-5）文件
* 1 IES分析軟件[大冢電子制造]也可以讀取和分析其他公司的光分布測量設備計算出的IES文件。
| 模型 | GP-500 *1 | GP-1100 *1 | GP-2000 |
| 光學系統*2 | 2軸測角儀 | ||
θφ坐標系 | θφ坐標系 | αβ坐標系/θφ坐標系 | |
| 光路長度 | 500 毫米或更小 | 500-1500mm | 1500 毫米或更多 |
| 對應樣品 | LED芯片 | 通用照明 | 一般照明，包括直管燈 |
模塊 | |||
| 探測器 | 多通道光譜儀 | ||
| 測量波長范圍 *3 | 220nm-2500nm | ||
| 評價項目 | 光強度的角度分布（光分布） 光譜輻射通量（spectrum） 色度坐標（u'，v'）[JIS Z8781-5] 色度坐標（x，y）[JIS Z 8724] ·主要波長（Dominant）和刺激純度（Purity）[JIS Z8781-3] ·相關色溫和Duv[JIS Z 8725] ·色彩性能評價數（Ra，R1至R15）[JIS Z 8726] ·IES（LM63-2002）和 JIS Z 8105-5 兼容） | ||
* 1 可以進行光譜輻射的光分布測量 * 2 兼容IESNA LM-75 * 3 可以選擇檢測器的波長范圍
* 4 IES 分析軟件[大冢電子制造] 由另一家公司的光分布測量設備計算。IES 文件可以閱讀和分析
配光測量方法中的坐標系類型（JIS C 8105-5）
| 坐標系 類型 | 相對于極軸的傾斜角 | 以極軸為旋轉中心的傾斜角 | IESNA LM-75 符號 | ||
(垂直角) | (水平角) | ||||
角標 | 角度范圍 | 角標 | 角度范圍 | ||
| αβ坐標系 | α | -90°≤α≤90° | β | -180°≤β<180° | B型 |
| θφ坐標系 | θ | 0°≤θ≤180° | θ | 0°≤φ<360° | C型 |
核心特點：
超大基板全覆蓋：專為下一代尺寸玻璃基板設計（支持超長/超寬規格），可高效測量LCD、TFT、有機EL等大型面板，兼容PI、ITO、SiN、介電層等復雜膜層結構。
納米級精度與秒級速度：采用分光干涉+AI算法技術，單點測量時間＜1秒，膜厚精度±0.1nm，光學常數（n/k）解析＜0.5%，滿足量產級質量控制需求。
全場景適配性：從研發實驗室到自動化產線，支持在線（inline）集成，可定制XYZ多軸平臺，實現基板全域厚度分布映射與缺陷快速篩查。
高速量產優化：每小時可檢測超3000點，支持多探頭并行測量，大幅提升玻璃基板（如G8/G10）產線效率，降低設備綜合成本（CoO）。
超薄與超厚膜通吃：量程覆蓋1nm至200μm，適用于OC（光學膠）、Resist（光刻膠）等軟膜與硬質涂層的精準厚度控制。
低維護：非接觸式測量設計，無探針損耗，長期使用穩定性達99.8%，搭配遠程診斷功能，減少停機風險。
日本Otsuka大塚GP series分光配光測量系統-成都藤田科技提供
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