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產品中心日本大塚Otsuka日本Otsuka大塚RETS-100nx相位差測量裝置
產品型號：
更新時間：2026-02-27
廠商性質：代理商
訪問量：638
服務熱線19938139269（馬經理）
產品分類
日本Otsuka大塚RETS-100nx相位差測量裝置-成都藤田科技提供
產品信息
特 點
使用光譜儀實現高精度測量
精度高的原因
● 使用高性能多通道光譜儀（型號：MCPD）對光譜進行解析
● 可獲取較多的透過率信息 實現高精度測量
(獲得的透射率信息約為 500 波長，是其他公司產品的約50 倍）。
超高相位差測量-超雙折射薄膜可高速、高精度測量
軸角度補正功能-即使樣品放置有偏離，也可輕松、再現性良好的進行測量
便捷的軟件-極大縮短測量時間與處理時間，操作性大幅UP
產品規格
測量項目（薄膜、光學材料） | 相位差（波長分散）、慢軸、RTH*1、3次元折射率*1等 |
|---|---|
測量項目（偏光片） | 吸收軸、偏光度、消光比、各種色度、各種透過率等 |
測量項目（液晶cell） | cell gap、預傾角*1 、扭曲角、配向角等 |
位相差測量范圍 | 0～60,000nm |
相位差重復性 | 3σ≦0.08nm（水晶波長板 約600nm） |
cell gap 測量范圍 | 0～600μm（Δn=0.1時） |
cell gap 重復性 | 3σ≦0.005μm（cell gap 約3μｍ、Δｎ＝0.1時） |
軸檢測重復性 | 3σ≦0.08°（水晶波長板 約600nm） |
測量波長范圍 | 400～800nm（其他可選） |
檢測器 | 多通道光譜儀 |
測量徑 | φ2㎜(標準規格) |
光源 | 100W halogen lamp |
數據處理部 | 個人計算機、顯示器 |
樣品臺尺寸:標準 | 100㎜×100㎜（固定樣品臺） |
option | ·超高相位差測量 |
*1：必須配備自動傾斜旋轉樣品臺。（option）
測量案例
固定樣品臺
自動傾斜旋轉樣品臺
自動XY樣品臺
日本Otsuka大塚RETS-100nx相位差測量裝置-成都藤田科技提供
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