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日本大塚Otsuka
日本Otsuka大塚RETS-100nx相位差測(cè)量裝置





產(chǎn)品型號(hào):
更新時(shí)間:2025-02-22
廠商性質(zhì):代理商
訪問(wèn)量:494
服務(wù)熱線19938139269(馬經(jīng)理)
產(chǎn)品分類
日本Otsuka大塚RETS-100nx相位差測(cè)量裝置-成都藤田科技提供

產(chǎn)品信息
特 點(diǎn)
使用光譜儀實(shí)現(xiàn)高精度測(cè)量
精度高的原因
● 使用高性能多通道光譜儀(型號(hào):MCPD)對(duì)光譜進(jìn)行解析
● 可獲取較多的透過(guò)率信息 實(shí)現(xiàn)高精度測(cè)量
(獲得的透射率信息約為 500 波長(zhǎng),是其他公司產(chǎn)品的約50 倍)。



超高相位差測(cè)量-超雙折射薄膜可高速、高精度測(cè)量

軸角度補(bǔ)正功能-即使樣品放置有偏離,也可輕松、再現(xiàn)性良好的進(jìn)行測(cè)量

便捷的軟件-極大縮短測(cè)量時(shí)間與處理時(shí)間,操作性大幅UP

產(chǎn)品規(guī)格
測(cè)量項(xiàng)目(薄膜、光學(xué)材料) | 相位差(波長(zhǎng)分散)、慢軸、RTH*1、3次元折射率*1等 |
|---|---|
測(cè)量項(xiàng)目(偏光片) | 吸收軸、偏光度、消光比、各種色度、各種透過(guò)率等 |
測(cè)量項(xiàng)目(液晶cell) | cell gap、預(yù)傾角*1 、扭曲角、配向角等 |
位相差測(cè)量范圍 | 0~60,000nm |
相位差重復(fù)性 | 3σ≦0.08nm(水晶波長(zhǎng)板 約600nm) |
cell gap 測(cè)量范圍 | 0~600μm(Δn=0.1時(shí)) |
cell gap 重復(fù)性 | 3σ≦0.005μm(cell gap 約3μm、Δn=0.1時(shí)) |
軸檢測(cè)重復(fù)性 | 3σ≦0.08°(水晶波長(zhǎng)板 約600nm) |
測(cè)量波長(zhǎng)范圍 | 400~800nm(其他可選) |
檢測(cè)器 | 多通道光譜儀 |
測(cè)量徑 | φ2㎜(標(biāo)準(zhǔn)規(guī)格) |
光源 | 100W halogen lamp |
數(shù)據(jù)處理部 | 個(gè)人計(jì)算機(jī)、顯示器 |
樣品臺(tái)尺寸:標(biāo)準(zhǔn) | 100㎜×100㎜(固定樣品臺(tái)) |
option | ·超高相位差測(cè)量 |
*1:必須配備自動(dòng)傾斜旋轉(zhuǎn)樣品臺(tái)。(option)
測(cè)量案例
固定樣品臺(tái)

自動(dòng)傾斜旋轉(zhuǎn)樣品臺(tái)

自動(dòng)XY樣品臺(tái)

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