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日本大塚Otsuka
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日本Otsuka大塚HM series 光譜光通測量系統-成都藤田科技提供 產品信息 特點 可處理高達2400mm的直管光學總光通量測量 測量系統符合IESNA的LM-79和LM-80標準 采用新的探測器,可以進行廣動態范圍的測量 測量部分的尺寸(積分球或積分半球)從250毫...
日本Otsuka大塚FHS-1000高靈敏度光譜儀-成都藤田科技提供 特點: 采用具有高亮度和色度精度的光譜方法(衍射光柵), 0.005cd / m 2的超低亮度到400000cd / m 2的高亮度都可測量, 對應CIE推薦的寬波長范圍(355 nm至835 nm) 光學系統降低了...
日本Otsuka大塚FE-3700高精度膜厚測量系統-成都藤田科技提供 產品信息 特殊長度 可以高速、高精度地測量各種玻璃基板上各種薄膜的膜厚和光學常數。 除了支持包括下一代尺寸在內的大型玻璃基板外,它還支持 LCD、TFT 和有機 EL。 用法 LCD ITO...
日本Otsuka大塚GS-300oad Port膜厚測量系統-成都藤田科技提供 產品信息 特點 支持集成到 Φ300mm EFEM 單元的備用端口 實現嵌入在晶片中的布線圖案的圖案對齊 支持半導體工藝的高吞吐量要求 支持槽口對齊功能 小尺寸規格 高精度自動校準單元 自動...
日本Otsuka大塚OPTM series嵌入分光膜厚儀成都藤田科技提供 用顯微微分光膜厚計OPTM series的高精度、微小光點,在線提供制作晶片圖案后的微小區域測量等膜厚信息。...
日本Otsuka大塚RE-200高速相位差測量裝置-成都藤田科技提供 產品信息 特 點 可測從0nm開始的低(殘留)相位差 光軸檢出同時可高速測量相位差(Re.) (相當于世界快速的0.1秒以下來處理) 無驅動部,重復再現性高 設置的測量項目少,測量簡單...
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