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日本大塚Otsuka
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日本Otsuka大塚PP-1000薄膜小角激光散射儀-成都藤田科技提供 PP-1000小角激光散射儀,利用小角激光散射法(Small Angle Laser Scattering,簡稱SALS),可以對(duì)高分子材料和薄膜進(jìn)行原位檢測(cè),實(shí)時(shí)解析。與SAXS和SANS的裝置相比,檢測(cè)范圍更廣。利用偏光Hv散射測(cè)量可以進(jìn)行光學(xué)各向異性的評(píng)價(jià),解析結(jié)晶性薄膜的球晶半徑,偏光Vv散射測(cè)量可以進(jìn)行聚合物混合的相
日本Otsuka大塚FE-5000橢偏儀可在紫外波長-成都藤田科技提供 采用線掃描方式檢測(cè)整面薄膜 硬件軟件均為創(chuàng)新設(shè)計(jì) 作為專業(yè)膜厚測(cè)定廠商,提供多種支援 實(shí)現(xiàn)高精度測(cè)量實(shí)現(xiàn)高速測(cè)量 不受偏差影響 可對(duì)應(yīng)寬幅樣...
日本Otsuka大塚RETS-100nx相位差測(cè)量裝置-成都藤田科技提供 采用線掃描方式檢測(cè)整面薄膜 硬件軟件均為創(chuàng)新設(shè)計(jì) 作為專業(yè)膜厚測(cè)定廠商,提供多種支援 實(shí)現(xiàn)高精度測(cè)量實(shí)現(xiàn)高速測(cè)量 不受偏差影響 可對(duì)應(yīng)寬幅樣...
日本Otsuka大塚 薄膜離線型掃描膜厚儀-成都藤田科技提供$n采用線掃描方式檢測(cè)整面薄膜 硬件軟件均為創(chuàng)新設(shè)計(jì) 作為專業(yè)膜厚測(cè)定廠商,提供多種支援 實(shí)現(xiàn)高精度測(cè)量實(shí)現(xiàn)高速測(cè)量 不受偏差影響 可對(duì)應(yīng)寬幅樣...
日本Otsuka大塚在線掃描膜厚儀膜厚測(cè)定儀-成都藤田科技提供$n采用線掃描方式檢測(cè)整面薄膜 硬件軟件均為創(chuàng)新設(shè)計(jì) 作為專業(yè)膜厚測(cè)定廠商,提供多種支援 實(shí)現(xiàn)高精度測(cè)量實(shí)現(xiàn)高速測(cè)量 不受偏差影響 可對(duì)應(yīng)寬幅樣...
日本Otsuka大塚FFT膜厚解析嵌入式檢測(cè)儀-成都藤田科技提供 產(chǎn)品信息 特 長 薄膜到厚膜的測(cè)量范圍、UV~NIR光譜分析 高性能的低價(jià)光學(xué)薄膜量測(cè)儀 藉由反射率光譜分析膜厚 完整繼承FE-3000機(jī)種90%的*功能 無復(fù)雜設(shè)定,操作簡單,短時(shí)...
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