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日本大塚Otsuka
膜厚測(cè)試儀
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MCPD-6800 大塚光譜儀高精度光譜測(cè)量設(shè)備 根據(jù)用途的各種檢測(cè)器的陣容 以最檔次的機(jī)型MCPD-9800為首,擁有兩個(gè)系列,共達(dá)9個(gè)波長(zhǎng)范圍的檢測(cè)器型號(hào)。 可配合客戶的需求與測(cè)量用途,選擇最的檢測(cè)器。 測(cè)量項(xiàng)目與所對(duì)應(yīng)的檢測(cè)器
OTSUKA 光譜儀 MCPD-9800 半導(dǎo)體檢測(cè)設(shè)備 根據(jù)用途的各種檢測(cè)器的陣容 以最檔次的機(jī)型MCPD-9800為首,擁有兩個(gè)系列,共達(dá)9個(gè)波長(zhǎng)范圍的檢測(cè)器型號(hào)。 可配合客戶的需求與測(cè)量用途,選擇最合的檢測(cè)器。 測(cè)量項(xiàng)目與所對(duì)應(yīng)的檢測(cè)器
日本OTSUKA大塚膜厚量測(cè)儀 支持從薄膜到厚膜的各種薄膜厚度 使用反射光譜分析薄膜厚度 實(shí)現(xiàn)非接觸、非破壞的高精度測(cè)量,同時(shí)體積小、價(jià)格低 簡(jiǎn)單的條件設(shè)置和測(cè)量操作!任何人都可以輕松測(cè)量薄膜厚度 通過(guò)峰谷法、頻率分析法、非線性最小二乘法、優(yōu)化法等,可以進(jìn)行多種膜厚測(cè)量。 非線性最小二乘法薄膜厚度分析算法可以進(jìn)行光學(xué)常數(shù)分析(n:折射率,k:消光計(jì)數(shù))。
顯微分光膜厚儀 OPTM series 非接觸、非破壞式,量測(cè)頭可自由集成在客戶系統(tǒng)內(nèi) 初學(xué)者也能輕松解析建模的初學(xué)者解析模式 高精度、高再現(xiàn)性量測(cè)紫外到近紅外波段內(nèi)的絕對(duì)反射率,可分析多層薄膜厚度、光學(xué)常數(shù)(n:折射率、k:消光系數(shù)) 單點(diǎn)對(duì)焦加量測(cè)在1秒內(nèi)完成 顯微分光下廣范圍的光學(xué)系統(tǒng)(紫外 ~ 近紅外) 獨(dú)立測(cè)試頭對(duì)應(yīng)各種inline定制化需求 最小對(duì)應(yīng)
日本OTSUKA大塚Smart膜厚儀 可攜帶至現(xiàn)場(chǎng)的手持式 可測(cè)量0.1μm單位 具有形狀的樣品也可非破壞的測(cè)量 不論基材材質(zhì)、可測(cè)量其鍍膜
日本Otsuka大塚電子SM-100涂層測(cè)厚儀-成都藤田科技提供 “便攜式手持型”重量?jī)H為 1.1 公斤,易于攜帶 “高精度測(cè)量和簡(jiǎn)單測(cè)量” 無(wú)需校準(zhǔn)曲線即可測(cè)量低至 0.1 μm 的測(cè)量 “兼容多層薄膜” 最多可測(cè)量 3 層多層薄膜 “無(wú)損、非接觸式測(cè)量”測(cè)量,不損壞樣品 “測(cè)量各種樣品” 無(wú)論基材(玻璃或塑料)如何,都可以進(jìn)行測(cè)量
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